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PDL/IL多功能測(cè)試儀

PDL/IL多功能測(cè)試儀

  • 產(chǎn)品型號(hào):PDL-201
  • 更新時(shí)間:2024-03-20
  • 產(chǎn)品介紹:General Photonics公司的PDL/IL多功能測(cè)試儀(PDL-201)采用大值/小值搜尋法(符合TIA/EIA-455-198標(biāo)準(zhǔn)),能夠?qū)ζ骷钠裣嚓P(guān)損耗(PDL)、插入損耗(IL)、光功率進(jìn)行快速測(cè)量,測(cè)量速度0.2s。該測(cè)試儀工作波長(zhǎng)覆蓋1260~1620nm,在高、低PDL和各種SOP的情況下都能得到精確的測(cè)量結(jié)果。
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General Photonics公司的PDL/IL多功能測(cè)試儀(PDL-201)采用大值/小值搜尋法(符合TIA/EIA-455-198標(biāo)準(zhǔn)),能夠?qū)ζ骷钠裣嚓P(guān)損耗(PDL)、插入損耗(IL)、光功率進(jìn)行快速測(cè)量,測(cè)量速度0.2s。該測(cè)試儀工作波長(zhǎng)覆蓋1260~1620nm,在高、低PDL和各種SOP的情況下都能得到精確的測(cè)量結(jié)果。該測(cè)試儀擁有RS-232、USB 及以太網(wǎng)接口,可以方便地與計(jì)算機(jī)連接,進(jìn)行遠(yuǎn)程控制和數(shù)據(jù)傳輸,是精確、快速測(cè)量無(wú)源器件、DWDM 器件的理想儀器。


主要應(yīng)用:

1、偏振相關(guān)損耗(PDL)的測(cè)量

2、插入損耗(IL)的測(cè)量

3、器件特性監(jiān)測(cè)


PDL/IL多功能測(cè)試儀技術(shù)規(guī)格
PDL-201在1260至1650 nm的波長(zhǎng)范圍內(nèi)工作。它的測(cè)量速度為30毫秒,并且可以在整個(gè)測(cè)量范圍內(nèi)準(zhǔn)確地測(cè)量PDL或IL到±(0.01 + PDL或IL的5%)dB以內(nèi)。PDL-201可以從前面板進(jìn)行控制,也可以通過USB,以太網(wǎng),RS-232或GPIB接口進(jìn)行遠(yuǎn)程控制。此外,它還具有用戶可配置的模擬監(jiān)控器電壓輸出,以監(jiān)控PDL值。

與所有Gen2儀器一樣,它具有OLED圖形顯示屏,人體工學(xué)鍵盤和通用電源。


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