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產(chǎn)品詳細(xì)頁
緊湊型測試儀

緊湊型測試儀

  • 產(chǎn)品型號:CT440
  • 更新時間:2021-04-10
  • 產(chǎn)品介紹:緊湊型測試儀將高速電子設(shè)備和光干涉測量技術(shù)結(jié)合起來。四個集成的檢測器使您能夠同時測量四個通道,單次激光器掃描的動態(tài)范圍為65 dB。此外,可在任何掃描速度實現(xiàn)±5 pm的波長精度,因此不需要在測量速度和精度間進(jìn)行取舍。
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緊湊的測試儀,用于快速、準(zhǔn)確地鑒定無源光元器件(復(fù)用器/解復(fù)用器、濾波器、分光器等)和模塊(ROADM、WSS)。覆蓋從1240到1680 nm的頻譜范圍,因此可在整個電信頻段上進(jìn)行測量。借助PDL選件,可同時測量插損和偏振相關(guān)損耗。

主要功能

  • 快速測量變換函數(shù)(插損)

  • 波長范圍:1240-1680 nm(SMF型號)

  • PM和PDL選件

  • 波長分辨率:1至250 pm

  • 波長精度:±5 pm

  • 動態(tài)范圍:單次掃描時65 dB

  • 最多可結(jié)合4個可調(diào)諧激光器(SMF型號)

  • 配備四個內(nèi)部檢測器,可通過同步進(jìn)行擴(kuò)展

  • 19英寸機(jī)架支持1U版本

快速測量插損

CT400地將高速電子設(shè)備和光干涉測量技術(shù)結(jié)合起來。四個集成的檢測器使您能夠同時測量四個通道,單次激光器掃描的動態(tài)范圍為65 dB。此外,可在任何掃描速度實現(xiàn)±5 pm的波長精度,因此不需要在測量速度和精度間進(jìn)行取舍。

準(zhǔn)確測量插損

CT440緊湊型測試儀集成了一個監(jiān)測光電探測器,在掃描期間補(bǔ)償來自激光光源的任何功率波動??梢圆豢紤]激光器掃描速度,在1和250pm之間選擇采樣分辨率。除了±5 pm的波長精度外,內(nèi)置的波長計可減輕對可調(diào)諧激光光源(TLS)的要求,從而在不影響測量性能的情況下降低系統(tǒng)成本。CT440在與TLS和PC連接時,可提供執(zhí)行測量所需的各種功能。

緊湊型測試儀支持全頻段

CT440(SMF型號)覆蓋從1240到1680 nm頻譜范圍,且*兼容EXFO的T100S-HP系列可調(diào)諧激光器。例如,將T100S-HP-O+、T100S-HP-ES、T100S-HP-CLU和CT440 SMF型號結(jié)合起來,實現(xiàn)全頻段測試。在使用多臺TLS時,CT440可自動在激光器間切換,實現(xiàn)無縫的全頻段測量。它與DUT間只需進(jìn)行一次連接,這意味著不需要外部開關(guān)。

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                                用于全頻段鑒定的典型配置

PM選件

CT440-PM可測量對偏振很敏感的元器件(如MZ調(diào)制器)的插損,此時在TLS輸入和輸出端口間需要一條偏振保持光纖。有兩個型號,使用PM13型光纖覆蓋O頻段(1260 nm至1360 nm),或使用PM15型光纖覆蓋SCL頻段(1440 nm至1640 nm)。因此,這些型號要求偏振保持的可調(diào)諧激光器,例如分別要求T100S-HP-O-M和100S-HP-SCL-M。

PDL選件

CT440-PDL集成了一個偏振態(tài)發(fā)生器,從而能夠通過連續(xù)的偏振控制掃描,鑒定插損和偏振相關(guān)損耗的頻譜(基于穆勒矩陣法)。有兩個型號,使用PM13型光纖覆蓋O頻段(1260 nm至1360 nm),或使用PM15型光纖覆蓋SCL頻段(1440 nm至1640 nm)。因此,這些型號要求偏振保持的可調(diào)諧激光器,例如分別要求T100S-HP-O-M和T100S-HP-SCL-M。

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                              使用CT440-PDL測量PDL

其它功能

激光線外差檢測(SMF型號,TLS輸入端口數(shù)≥2)

可將被測信號(SUT)連接到TLS第二個輸入端口上。在激光器掃描整個波長范圍的過程中,CT440會在穿過SUT波長時生成并檢測干涉圖樣。因此,CT440可用作多波長計。

使用*的基準(zhǔn)激光器或光纖耦合的氣體腔重新校準(zhǔn)系統(tǒng)

可使用支持外差檢測功能的基準(zhǔn)激光器,或支持波長基準(zhǔn)測試功能的氣體腔,進(jìn)一步提高精度。

帶內(nèi)置分析功能的控制軟件

提供直觀全面的GUI,便于激光器管理、基準(zhǔn)測試、掃描配置和濾波器分析。

*的遠(yuǎn)程控制

借助DLL和CT440隨帶的示例軟件代碼,可隨時將元器件測試整合到復(fù)雜的遠(yuǎn)程控制程序中。

外形小巧

CT440有全新的機(jī)架式版本(高度為1U),是空間有限的實驗室的理想之選。

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備注

a. 用于采樣分辨率為5 pm,> 5 nm進(jìn)行的TLS掃描,對于PDL-O和PDL-SCL,采樣分辨率為1 pm,不包括TLS掃描的加速和減速部分。
b. 在波長基準(zhǔn)測試后。
c. 對于檢測器上的入射功率> -30 dBm。精度:±0.5 dB,用于-30 dBm和-60 dBm之間的功率。
d. 1260 nm至1640 nm。
e. 如果激光器輸入功率 = 10 mW(動態(tài)范圍與激光器輸出功率成比例)。
f. 對于檢測器上的入射功率 > -30 dBm,根據(jù)分辨率為5 pm時6個狀態(tài)測量結(jié)果確定。
g. 穩(wěn)定的測試條件,建議用于較高PDL的6個狀態(tài)。
h. 選擇的激光器頻率范圍除以本地采樣分辨率。

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